PREGLED I PAKOVANJE DIODE ZA ZAVARIVANJE SERIJE ZW
Metode ispitivanja i pravila inspekcije
1. Inspekcija serije po serija (inspekcija grupe A)
Svaku seriju proizvoda treba pregledati prema tabeli 1, a svi artikli u tabeli 1 su nedestruktivni.
Tabela 1 Inspekcija po seriji
| Grupa | InspekcijaStavka | Metoda inspekcije | Kriterijum | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Izgled | Vizuelni pregled (pod normalnim osvetljenjem i uslovima vida) | Logo je čist, površinski premaz i oplata su bez ljuštenja i oštećenja. | 1.5 |
| A2a | Električne karakteristike | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) u JB/T 7624—1994 | Obrnuti polaritet:VFM>10USL IRRM>100USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4,1 (25 ℃) u JB/T 7624—1994 | Žalba na zahtjeve | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) u JB/T 7624—1994 | Žalba na zahtjeve | ||
| Napomena: USL je maksimalna granična vrijednost. | ||||
2. Periodični pregled (inspekcija Grupe B i Grupe C)
Prema tabeli 2, gotovi proizvodi u normalnoj proizvodnji treba da se pregledaju najmanje jednu seriju Grupe B i Grupe C svake godine, a predmeti inspekcije označeni sa (D) su destruktivni testovi.Ako je početna inspekcija nekvalifikovana, dodatno uzorkovanje se može ponovo pregledati prema Dodatku Tablica A.2, ali samo jednom.
Tabela 2 Periodični pregled (Grupa B)
| Grupa | InspekcijaStavka | Metoda inspekcije | Kriterijum | Plan uzorkovanja | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Ciklus temperature (D) nakon čega slijedi zaptivanje |
| Mjerenje nakon testa:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL ne curenje | 6 | 1 |
| CRRL | Ukratko navedite relevantne atribute svake grupe, VFM i jaRRMvrijednosti prije i poslije testa i zaključak testa. | ||||
3. Inspekcija identifikacije (inspekcija grupe D)
Kada je proizvod finaliziran i stavljen u ocjenjivanje proizvodnje, pored pregleda A, B, C grupe, potrebno je uraditi i ispitivanje D grupe prema tabeli 3, a stavke kontrole označene sa (D) su ispitivanja razaranja.Normalna proizvodnja gotovih proizvoda ispituje se najmanje jedna serija grupe D svake tri godine.
Ako početna inspekcija ne uspije, dodatno uzorkovanje se može ponovo pregledati prema Dodatku Tablica A.2, ali samo jednom
Tabela 3 Test identifikacije
| No | Grupa | InspekcijaStavka | Metoda inspekcije | Kriterijum | Plan uzorkovanja | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Test opterećenja termičkog ciklusa | Vremena ciklusa: 5000 | Mjerenje nakon testa: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Udar ili vibracija | 100g: držite 6ms, polu-sinusni oblik, dva smjera 3 međusobno okomite ose, 3 puta u svakom smjeru, ukupno 18 puta.20g: 100~2000Hz, 2h u svakom smjeru, ukupno 6h. | Mjerenje nakon testa: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Ukratko navedite relevantne podatke o atributima svake grupe, VFM , IRRMi jaDRMvrijednosti prije i poslije testa i zaključak testa. | |||||
Označavanje i pakovanje
1. Mark
1.1 Oznaka na proizvodu uključuje
1.1.1 Broj proizvoda
1.1.2 Identifikacioni znak terminala
1.1.3 Naziv kompanije ili zaštitni znak
1.1.4 Identifikacioni kod kontrolne partije
1.2 Logo na kutiji ili priloženom uputstvu
1.2.1 Model proizvoda i standardni broj
1.2.2 Naziv i logo kompanije
1.2.3 Znakovi otporni na vlagu i kišu
1.3 Paket
Zahtjevi za pakovanje proizvoda trebaju biti u skladu sa domaćim propisima ili zahtjevima kupaca
1.4 Dokument o proizvodu
Na dokumentu treba navesti model proizvoda, standardni broj implementacije, posebne zahtjeve za električne performanse, izgled itd.
Thedioda za zavarivanjeproizveden od strane Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor široko se primjenjuje u otpornim zavarivačima, zavarivačkim mašinama srednje i visoke frekvencije do 2000Hz ili više.Sa ultra niskim prednjim vršnim naponom, ultra niskim termičkim otporom, vrhunskom tehnologijom proizvodnje, odličnom sposobnošću zamjene i stabilnim performansama za globalne korisnike, dioda za zavarivanje iz Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor je jedan od najpouzdanijih uređaja Kine. poluprovodnički proizvodi.